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- 溫補晶振
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- 壓控溫補晶振
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常見問題
更多>>可編程晶振,愛普生石英晶振,SG-8003CE振蕩器,有多種電壓供選擇,比如有1.8V,2.5V,3.3V,3.8V,5V等,產品被廣泛應用于,平板筆記本,GPS系統(tǒng),光纖通道,千兆以太網,串行ATA,串行連接SCSI,PCI-Express的SDH / SONET發(fā)射基站等領域.符合RoHS/無鉛.愛普生可編程石英晶振SG-8003CE,成本相對普通有源晶振,溫補晶振,壓控晶振,壓控溫補晶振相對較高些,貼片式石英晶體振蕩器,低電壓啟動功率.
愛普生晶振參數 | SG-8003CE | |
頻率范圍 | f0 | 1.0MHZ~166.0MHZ |
電源電壓 | VCC | 1.8 V,2.5 V,3.3V |
儲存溫度 | T_stg | -40°C to +85°C |
工作溫度范圍 | T_use | -20℃to +70°C / -40℃to +85°C |
頻率公差 | f_tol |
B:±50×10-6, C:±100×10-6 L:±50 ×10-6, M:±100×10-6 |
電流消耗 | ICC | 15.0 mA Max. |
禁用當前 | I_dis | 8 mA Max. |
占空比 | SYM | 45 % to 55 % |
高輸出電壓 | VOH | 90 % VCC Min. |
低輸出電壓 | VOL | 10 % VCC Max. |
輸出負載條件 | L_CMOS | 15 pF Max. |
靜止啟用 | VIH/VIL | 80% VCC Min./20% VCC Max. |
上升時間和下降時間 | tr/ tf | 5.0 ns Max. |
啟動時間 | t_str | 2.5 ms Max. |
頻率老化 | f_aging |
±3 ×10-6 / year Max. |
產品的可靠性可以通俗的理解為:產品生產完成后,不會因常規(guī)的搬運,儲存而使其性能受影響,不會因客戶的焊接,清洗和封裝等各種使用條件而影響性能.產品的可靠性可以通過各種可靠性試驗來衡量,目前常見的可靠性試驗有:
高溫儲存試驗 125℃±10℃;1000H±24H
溫度循環(huán)試驗 T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃;循環(huán)次數10次.(溫度轉換約30分鐘)
溫度沖擊試驗 T1 = -55℃±10℃ T2= 125℃±10℃;循環(huán)次數10次.(溫度轉換時間5秒)
恒溫恒濕試驗 TC 85±10℃ H 85% ;1000H±24H
可焊性(焊錫)試驗 230±10℃;3 s
耐焊接試驗 260±10℃;10 s
跌落試驗 75 cm;3 次.
振動試驗 頻率10 Hz — 2000 Hz;振幅 1.5 mm;每方向 40 分鐘.
老化率試驗 TC 85±10℃;300 H
壽命試驗(MTBF);85℃or125℃;1000H;利用公式及失效產品數計算出產品模擬壽命.
愛普生株式會社愛普生拓優(yōu)科夢,(EPSON — TOYOCOM)1942年成立時是精工集團的第三家手表制造公司,以石英手表起家的愛普生公司到后續(xù)的生產壓電石英晶體,1996年2月在中國蘇州投資建廠,在當時員工人數就達2000人,總投資4.05